MarSurf XR 1
PC destekli pürüzlülük ölçme istasyonları
MarSurf XR 1. Kullanıcı dostu yüzey metrolojisi için düşük maliyetli ve ideal başlangıç seviyesi aletPC tabanlı donanım, hem inceleme odasında hem de üretimde uluslararası standartlara uygun olarak tüm yaygın parametre ve profilleri sağlıyor. Mahr MarSurf XR 1, yenilikçi bir pürüzlülük değerlendirme yazılımıdır.
- Güncel ISO/JIS veya MOTIF standartlarına göre R, P ve W profilleri için 80`den fazla yüzey parametresi (ISO 12085)
- Geçerli standarda uygun Ls bant geçişli filtre; Ls ayrıca gerektiğinde kapatılabilir veya değiştirilebilir.
- Kapsamlı ölçüm raporları
- Quick&Easy ölçüm programlarının hızlı bir şekilde oluşturulması için Teach-In yöntemleri
- Standartlara uygun olarak kesme ve kullanılabilir hareket uzunluğu seçme için otomatik fonksiyonlar (patentli)
- Ra veya Rz parametresi belirleyerek çeşitli kalibrasyon yöntemleri (statik ve dinamik) için destek
- Ayarlanabilir bakım ve kalibrasyon aralıkları
- Özelleştirilmiş uygulamalar için çok sayıda ölçüm istasyonu yapılandırması
- Seçenekler sistem esnekliği sağlar
- Çeşitli kullanıcı seviyeleri, cihazı kötüye kullanıma karşı korur ve izinsiz kullanımı engeller
|
Ölçme prensibi
|
Tarama ucu yöntemi
|
|---|---|
|
Girdiler
|
MarSurf SD 26 tahrik ünitesi ile BFW desteksiz sistem ve/veya MarSurf RD 18 tahrik ünitesi ile PHT destekli sistem
|
|
Ölçüm aralığı mm
|
+/- 250 µm (3x prob kolu uzunluğu ile +/- 750 µm seviyesine kadar) BFW sistemi için geçerlidir
350 µm PHT prob sistemi için geçerlidir |
|
ISO/JIS`e göre filtre
|
ISO 11562 uyarınca Gauss filtresi
ISO 16610-21 / ISO 16610-31`e uygun filtre |
|
Hareket uzunlukları
|
MarSurf GD 26 / SD 26: Otomatik; 0,56 mm*; 1,75 mm; 5,6 mm; 17,5 mm; 56 mm,
Dayamaya kadar ölçüm, değişken * Hareket uzunluğu tahrik ünitesine bağlıdır RD 18: Otomatik; 1,75 mm; 5,6 mm; 17,5 mm |
|
ISO/JIS`e göre örnekleme uzunluğu sayısı n
|
1 - 50 (varsayılan: 5)
|
|
Ölçüm kuvveti
|
0,7 mN
|
|
Yüzey parametreleri
|
R, P ve W profilleri için 80`den fazla yüzey parametresi
geçerli ISO/JIS veya MOTIF standartlarına (ISO 12085) göre |
Makine yapımı
Yataklar, miller, raflar, valfler, mühendislik ve hassas tasarım sektöründen çeşitli bileşenler
Otomotiv sektörü
Direksiyon, fren sistemi, şanzıman, krank mili, kam mili, silindir kapağı, silindir bloğu, turboşarj
Tıp
Kalça ve diz endoprotezleri için yüzey pürüzlülük ölçümü
Havacılık ve Uzay
Türbin bileşenleri
Optik
Çeşitli optik bileşenler
- MarSurf XR 1, XR 1 yazılımı, standart lisanslı Mahr lisans anahtarı
- Tahrik ünitesi adaptörü
- Hepsi bir arada PC isteğe bağlı
- Prob sistemi dahil MarSurf SD 26 ve/veya RD 18 tahrik ünitesi
- MFW 250 B prob sistemi seti
- MarSurf ST-G ölçüm standı
- CT 120 XY tablası
Genel yazılım seçenekleri:
- MarWin için baskın dalgalılık seçeneği (WDc)
- ISO 13565-3 yüzey parametreleri seçeneği
- QS-STAT / QS-STAT Plus seçeneği
- Profil işleme seçeneği
- Kullanıcı tanımlı parametreler seçeneği (uygulama tasarım ekibi parametre veya işi gereklidir)
- MarSurf XR 1 / XR 20 seçeneği için Contour 1 (MarSurf SD 26 tahrik ünitesi ile)
- Tüm seçenekler tek MLK üzerinde
Yazılım seçenekleri:
- Genişletilmiş değerlendirme seçeneği
- Çoklu ölçüm seçeneği
- Genişletilmiş ölçüm kaydı seçeneği
- Script programı entegrasyon seçeneği
- Dijital G/Ç seti seçeneği
- Destekli ya da desteksiz tarama
- MarSurf RD 18 veya MarSurf SD 26 tahrik üniteleri
Size yardymcy olmaktan mutluluk duyaca?yz!
Bu ürün ile ilgili
Sorularynyz ve Talepleriniz için;
Telefon ile destek;
+90 216 326 4535